加州理工大學 Harry Atwater 教授帶領團隊對超薄材料在外界輻射壓力下反應精細測量。特製微型「光帆」由 50 奈米厚氮化矽薄膜構成，尺寸僅約 40×40 微米，實驗不僅成功測出光推力（達 femtonewton 級），還首創將設備同時作為功率計，直接量測雷射功率。團隊指出，將來會應用奈米科學和超材料技術，設計能自調整功能的光帆，使其受側向或旋轉力干擾時能自動恢復正確位置，以維持長距離飛行穩定性。